HOME > 論文 > 書誌詳細High Resolution Transmission Electron Microscopy of Defects in High Tc Superconductor Ba2YCu3Oy松井良夫, MUROMACHI, Eiji, 加藤克夫, 堀内繁雄, 小野晃. Jap.J.Appl.Phys. 777. 1987.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:28:23 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:28:23 +0900
