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X-ray photoelectron spectroscopic analysisi of growth and thermal stability of palladium ultra thin films on alumina/NiAl(110)

Weijie Song, Michiko Yoshitake, Thi Thi Lay.
Surface and Interface Analysis 36 [8] 1136-1139. 2004.

NIMS著者


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    作成時刻: 2016-05-24 14:32:54 +0900 更新時刻: 2026-03-25 05:01:56 +0900

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