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著者名Bin Chen, Hirofumi Matsuhata, Takashi Sekiguchi, Akimasa Kinoshita, Kyouichi Ichinoseki, Hajime Okumura.
タイトルTuning minority-carrier lifetime through stacking fault defects: The case of polytypic SiC
掲載誌名Applied Physics Letters 100 13 132108
ISSN: 00036951 10773118
発表年2012
言語English
DOI10.1063/1.3700963
ESIでのカテゴリPHYSICS
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