HOME > 論文 > 書誌詳細Nanoscale microstructural analysis of metallic materials by atom probe field ion microscopy(アトムプローブによる金属材料のナノスケール解析)K Hono. Progress in Materials Science 47 [6] 621-729. 2002.https://doi.org/10.1016/s0079-6425(01)00007-x NIMS著者宝野 和博Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:54:58 +0900 更新時刻: 2025-10-22 05:35:04 +0900