HOME > 論文 > 書誌詳細日本での超微小押込試験装置と薄膜への応用(Nano indentation devices developed in Japan and application to thin films)大村孝仁, 嶋本篤, 嶋本篤. 「非破壊検査」 . 1998.NIMS著者大村 孝仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:52:18 +0900更新時刻: 2022-09-05 10:52:18 +0900