HOME > 論文 > 書誌詳細オージェ電子分光法,X線光電子分光法による表面定量分析の国際標準化(International standardization of quantitative surface analysis by Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy)田沼 繁夫. 真空 48 [4] 261-264. 2005.NIMS著者田沼 繁夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2016-05-24 14:45:41 +0900 更新時刻 :2018-05-30 18:23:20 +0900