HOME > 論文 > 書誌詳細High Voltage Electron Microscopy of Crack TiP Dislocations in MgOBANDO, Yoshio, 高橋裕, 田中英彦, 須賀唯知. Journal of Electron Microscopy 325-336. 1991.NIMS著者板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:33:27 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:33:27 +0900
