High-Angle Annular Dark-Field STEM Observation of Xe Nanocrystals Embedded in Al
(大角度走査透過暗視野法によるAl中のXe微結晶の観察)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2022-09-05 11:01:27 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:01:27 +0900