HOME > 論文 > 書誌詳細走査トンネル顕微鏡によるナノ構造の創製と解析(Nano-Fabrication and Nano-Characterization by Scanning Tunneling Microscopy)藤田 大介, 鷺坂 恵介, 大木 泰造. まてりあ 43 [9] 724-729. 2004.NIMS著者藤田 大介鷺坂 恵介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2016-05-24 14:32:08 +0900 更新時刻 :2018-12-14 22:54:35 +0900