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Endurance of magnetic tunnel junctions under dynamic voltage stress

C.M. Choi, H. Sukegawa, S. Mitani, Y.H. Song.
Electronics Letters 53 [16] 1146-1148. 2017.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-11-08 21:25:14 +0900 更新時刻 :2020-11-16 22:31:50 +0900

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