Structural Obsenvation of Indium Nanocrystals deposited on Si(111)thin films by UHV-FE-TEM.
(UHV-FE-TEMによるSi(111)薄膜上に蒸着されたInナノ結晶の構造観察。)
NIMS著者
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作成時刻: 2022-11-15 00:39:22 +0900更新時刻: 2022-11-15 00:39:22 +0900