疎水性フィルムを用いる溶液試料の全反射蛍光X線分析法
(Total reflection X-ray fluorescence using hydrophobic film coated on the silicon plate)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2022-11-15 00:39:15 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:39:15 +0900