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Degradation of REBCO conductors caused by the screening current

D X Ma, Z Y Zhang, S Matsumoto, R Teranishi, T Kiyoshi.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻 :2016-05-24 17:05:13 +0900 更新時刻 :2022-09-05 13:50:19 +0900

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