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著者名Feifei Yuan, Kazumasa Iida, Vadim Grinenko, Stefan Richter, Aurimas Pukenas, Werner Skrotzki, Masahito Sakoda, Michio Naito, Alberto Sala, Aichi Yamashita, Marina Putti, Zhixiang Shi, Ruben Hühne, Kornelius Nielsch, TAKANO, Yoshihiko.
タイトルUniversal scaling behavior of the upper critical field in strained FeSe0.7Te0.3 thin films
掲載誌名NEW JOURNAL OF PHYSICS 20 [9] 093012-1-093012-9
ISSN: 13672630
発表年2018
言語English
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1088/1367-2630/aade66
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