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著者名Changdong Chen, Bo‐Ru Yang, Gongtan Li, Hang Zhou, Bolong Huang, Qian Wu, Runze Zhan, Yong‐Young Noh, Takeo Minari, Shengdong Zhang, Shaozhi Deng, Henning Sirringhaus, Chuan Liu.
タイトルAnalysis of Ultrahigh Apparent Mobility in Oxide Field‐Effect Transistors
掲載誌名Advanced Science 6 [7] 1801189
ISSN: 21983844
発表年2019
言語English
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1002/advs.201801189
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