In situ spectroscopic measurement of defect formation in SiO_2 induced by femtosecond laser irradiation
(フェムト秒レーザ照射により誘起されたSiO2の欠陥生成のその場分光測定)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2022-11-15 00:40:49 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:40:49 +0900