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Sapphire基板上のBismuth薄膜の熱伝導率と界面熱抵抗の測定
(Thermal conductivity and interfacial thermal resistance measurement of bismuth film deposited on sapphire substrate)

加藤 良三, 徐 一斌.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-02-27 01:30:30 +0900 更新時刻 :2017-03-17 03:32:01 +0900

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