HOME > 会議録 > 書誌詳細Sapphire基板上のBismuth薄膜の熱伝導率と界面熱抵抗の測定(Thermal conductivity and interfacial thermal resistance measurement of bismuth film deposited on sapphire substrate)加藤 良三, 徐 一斌. 第29回日本熱物性シンポジウム予稿集 378-380. 2008.NIMS著者徐 一斌Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-27 01:30:30 +0900 更新時刻 :2017-03-17 03:32:01 +0900