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NIMS Awardシンポジウム2026

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シリサイド薄膜の相対スパッタエッチングレート比のエネルギー依存性
(The measurements of relative sputter etching rate for silicide thin film.)

山内康弘, 吉武 道子, 表面分析研究会SERDプロジェクトグループ, 山内康弘, 表面分析研究会SERDプロジェクトグループ.
真空 35-38. 2002.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-02-27 00:01:41 +0900 更新時刻: 2017-03-17 02:06:38 +0900

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