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NIMS Awardシンポジウム2026

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漏浅磁束探傷におけるセンサ寸法と分解能について.
(Resolution by Sensor Size on Magnetic Flux Leakage Testing.)

植竹一蔵, 伊藤秀之, 斎藤鉄哉, 植竹一蔵, 伊藤秀之, 斎藤鉄哉.
平成2年度NDI春季講演大会. 1990年03月15日-1990年03月16日.

NIMS著者


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      作成時刻: 2017-02-18 00:18:16 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:09:52 +0900

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