Ar+,H+照射によってNi中に形成される二次欠陥の高分解能電顕観察.
(High Resolution Electron Microscopy of Ar+ and H+ Irradiation Induced Defects in Ni.)
日本電子顕微鏡学会. 1993年05月26日-1993年05月28日.
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作成時刻: 2017-02-18 00:40:24 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:22:52 +0900