HOME > 口頭発表 > 書誌詳細極間式磁粉探傷装置における探傷有効範囲について（C形試験片を用いた測定）伊藤秀之, 桑江良教, 植竹一蔵, 杉浦克尚, 伊藤秀之, 桑江良教, 植竹一蔵, 杉浦克尚. NDI第3分科会. 1977-07-21.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:07:17 +0900 更新時刻: 2017-07-10 16:58:10 +0900
