ＳＲ斜入射蛍光Ｘ線分析法による薄膜界面の選択励起
(Selective Excitation of specific interface by Grazing Incidence Synchrotron XRF)
第５５回応用物理学会学術講演会. 1994年09月19日-1994年09月22日.
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作成時刻: 2017-02-18 00:51:31 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:29:36 +0900