HOME > 口頭発表 > 書誌詳細A few practical aspects of atomic-column imaging using ADF and EELS木本 浩司, 浅香 透, 長井 拓郎, 斎藤 光浩, 石塚 和夫, 松井 良夫. Advanced Electron Microscopy in Materials Physics Workshop. 2007. 招待講演NIMS著者木本 浩司長井 拓郎松井 良夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:27:05 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:40 +0900