Co-Cr-Ta スパッター薄膜の三次元アトムプローブ分析
(Three Dimentional Atom Probe Analysis of Chemical Heterogeneities in Co-Cr-Ta Sputtered Thin Films)
43rd International Field Emmision Symposium（第43回国際電界放射. 1996年07月14日-1996年07月20日.
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作成時刻: 2017-02-18 01:06:29 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:37:15 +0900