二重イオン照射インターフェースを設えた200kV電顕によるNiの照射二次欠陥の動的観察.
(Dynamic Observation of Radiation Induced Secondary Defects Clusters of Ni by 200kV TEM with Dual Ion Beam Interface.)
粒子線技術椣玄餅タ行委員会. 1991年11月25日-1991年11月27日.
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作成時刻: 2017-02-18 00:23:04 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:12:35 +0900