HOME > 口頭発表 > 書誌詳細収差補正ローレンツ顕微鏡法による磁気微細構造のサブナノスケールイメージング(Sub-nanoscale Imaging of Magnetic Fine Structures Using Aberration-corrected Lorentz Microscopy)長井 拓郎, 木本 浩司, 伊野家浩司, 竹口 雅樹. 第74回日本顕微鏡学会学術講演会. 2018.NIMS著者長井 拓郎木本 浩司竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-02-10 22:07:33 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:18:14 +0900