HOME > 口頭発表 > 書誌詳細環状暗視野検出器の応答特性評価とSTEM-ADF像の定量解析(Response Properties of ADF Detector and Quantitative STEM-ADF Imaging)山下 俊介, 越谷 翔悟, 木本 浩司. 日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会. 2014.NIMS著者木本 浩司Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:42:53 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:52:58 +0900