応力と電圧印加による単結晶酸化すずワイヤの格子欠陥生成・消滅
(Creation and elimination of lattice defects in a single crystal SnO2 wire by stress and voltage)
日本物理学会 第68回年次大会. 2013.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:36:20 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:31:28 +0900