HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ラマン・電気特性同時測定によるエピタキシャルPZT薄膜のドメイン構造のその場評価長田 実, 金容寛, 横山信太郎, 舟窪浩. 2006年春季 第53回応用物理学関係連合講演会. 2006.NIMS著者長田 実Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:19:53 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:36:21 +0900