X線回折、電子回折、計算機シミュレーションによる アモルファスSiOの構造解析
(Structure analysis of amorphous SiO by x-ray diffraction, electron diffraction, and computer simulation )
第30回日本放射光学会年会・放射光科学合同シンポジウム. 2017年01月07日-2017年01月09日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:03:20 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:30:27 +0900