Trace Chemical Characterization of Liquid Drop by Flurescence Detection of Absorption Edge Shifts Using Total Reflection Support
(全反射支持基板を用いた蛍光X線検出吸着端化学シフト測定による液滴のケミカルキャラクタリゼーション)
The 9th International Conference on X-ray Absorption Fine Struct. 1996年08月26日-1996年08月30日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 01:04:46 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:36:23 +0900