Integrated control system for multiple-scanning-probe microscopy
(マルチ走査プローブ顕微鏡のための統合制御システム)
| 著者 | HIGUCHI, Seiji, EGGER, Stefan, NAKAYAMA, Tomonobu. |
|---|---|
| 会議名 | International Symposium on Surface Science and Nanotechnology |
| 発表年 | 2005 |
| 言語 | English |