HOME > 口頭発表 > 書誌詳細モノクロメータおよび収差補正装置を用いた高分解能ローレンツ電子顕微鏡法(High-resolution Lorentz electron microscopy using monochromator and Cs corrector)長井 拓郎, 伊野家浩司, 竹口 雅樹, 木本 浩司. 日本顕微鏡学会第70回記念学術講演会. 2014.NIMS著者長井 拓郎竹口 雅樹木本 浩司Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:35:35 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:31:54 +0900