HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Deep Defect Detection Using Eddy Current Testing with AMR SensorHE, Dongfeng. Progress In Electromagnetics Research Symposium. 2013年08月12日-2013年08月15日.NIMS著者何 東風Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 14:09:50 +0900更新時刻: 2022-09-05 14:09:50 +0900