HOME > 口頭発表 > 書誌詳細La2CuO4の原子分解能電子状態分析(Atomic resolution electronic state analysis in La2CuO4)治田 充貴, 長井 拓郎, N. R. Lugg, M. J. Neish, 長尾 全寛, 倉嶋 敬次, L. J. Allen, 溝口照康, 木本 浩司. 18th International Microscopy Congress. 2014.NIMS著者長井 拓郎倉嶋 敬次木本 浩司Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 04:33:55 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:51:49 +0900