HOME > 口頭発表 > 書誌詳細超高圧電子顕微鏡を用いたトモグラフィー観察の新展開長谷川 明, 下条雅幸, 松本創, 佐野博成, 古屋 一夫. 日本顕微鏡学会第64回学術講演会. 2008年05月21日-2008年05月23日.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:57:04 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:12:57 +0900
