Approaching atomic monolayer resolution in sputter depth profiling
(スパッタ深さプロフィルにおける原子単層分解能への手引き)
International Symposium on Atomic Level Characterizations for Ne. 1997年11月23日-1997年11月28日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-18 01:22:14 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:45:31 +0900