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軟X線発光分光によるNa8B74.5Si17.5の電子状態の研究
(SXES study of electronic structure of sodium borosilicide Na8B74.5Si17.5)

寺内正己, 森戸春彦, 山根久典, 越谷 翔悟, 木本 浩司.
2016年秋季大会. 2016.

NIMS著者


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    作成時刻 :2017-01-08 04:35:21 +0900 更新時刻 :2017-07-10 22:27:43 +0900

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