HOME > Presentation > Detailフェーズフィールド法を用いた連続体シミュレーションによる原子流束解析とナノ配線故障予測への応用(Nanowire Failure Prediction via Atomic Flux Analysis: Continuum Simulation Based on the Phase-Field Method)石井 秋光. 第18回 電子デバイスにおける原子拡散・応力現象研究会. 2026-10-26. InvitedNIMS author(s)ISHII, AkimitsuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2026-10-28 03:07:22 +0900 Updated at: 2026-10-28 03:07:22 +0900