全反射蛍光XAFSと放射光in－plane回折によるナノシートの構造解析
(Structure analysis of nanosheet crystallites by total reflection fluorescence XAFS and Synchrotron radiated in-plane diffraction)
日本セラミックス協会第18回秋季シンポジウム. 2005. 招待講演
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作成時刻: 2017-02-14 10:57:20 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:40:48 +0900