Dual Ion Beam Irradiation System Interfaced with a Transmission Electron Microscope and the Observation of Defect Evolution in N
(水素イオン及びアルゴンイオン照射によってニッケル中に導入された二次欠陥の高分解能電顕観察)
超高圧、高分解能電子顕微鏡による業績と展望に関するシンポジウム. 1994年02月21日-1994年02月24日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 10:56:03 +0900 更新時刻: 2023-04-09 15:00:03 +0900