格子歪制御によるSi(100)基板上ドーム構造Geドットのサイズコントロール
(Size control of dome-shaped Ge dot on Si(100) by strain-engineering)
Second International Workshop on New Group IV (Si-Ge-C) Semicond. 2002年06月02日-2002年06月04日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 02:37:07 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:25:06 +0900