Ag/ZnO接合薄膜の加熱処理における界面電子状態評価
(Effect of post-deposition annealing of electronic states properties of interface in Ag / ZnO multi-layers)
第57回セラミックス基礎科学討論会. 2019年01月16日-2019年01月17日.
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作成時刻: 2019-03-04 09:36:32 +0900更新時刻: 2019-03-04 09:36:32 +0900