HOME > 口頭発表 > 書誌詳細単層グラフェンSTEM-ADF像の定量解析(Quantitative Annular Dark-Field Imaging of Single-Layer Graphene)山下 俊介, 越谷 翔悟, 石塚 和夫, 木本 浩司. 日本顕微鏡学会第71回学術講演会. 2015年05月13日-2015年05月15日.NIMS著者木本 浩司Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:10:18 +0900 更新時刻: 2017-07-10 22:09:33 +0900