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MEMに基づく全回折パターン・フィッティングによる構造の精密化．II．放射光粉末X線回折データの解析
(Structure refinement by whole-pattern fitting based on MEM. II. Analysis of synchrotron X-ray powder diffraction data)
日本結晶学会 2001年度 年会. October 02, 2001-October 03, 2001.
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Created at: 2017-02-18 02:21:43 +0900 Updated at: 2017-07-10 18:17:26 +0900