HOME > Presentation > DetailEffects of the Oxide Film Density on the Resistive Switching Characteristics of Atomic Switchesマヌカン ロミュアル セドリック, 鶴岡 徹, 長谷川 剛, 青野 正和. 第62回応用物理学会春季学術講演会. March 11, 2015-March 14, 2015.NIMS author(s)TSURUOKA, TohruAONO, MasakazuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 10:57:28 +0900Updated at: 2017-07-10 22:04:25 +0900