High-resolution Transmission Electron Microscopy of Damage Structures in 316SS Irradiated by 1000keV Electrons
(SUS316における1000keV電子線照射欠陥の高分解能電子顕微鏡解析)
International Conference on Microstrustures and Functions of Mat. 1996年09月09日-1996年09月11日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 01:08:45 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:38:23 +0900