電子冷却用ｎ型Bi2(Se,Te)3合金の遠赤外評価（Ⅲ）
(Far-Infrared Optical Characterization of n-Type Bi2(Se,Te)3Alloy)
応用物理学会. 1995年08月28日-1995年08月30日.
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作成時刻: 2017-02-14 11:07:13 +0900 更新時刻: 2018-05-21 18:06:37 +0900