多探針走査トンネル顕微法によるErSi2ナノワイヤーの電気伝導性評価
(Electrical properties of ErSi2 nanowires studied by multiple-probe scanning tunneling microscopy)
第7回シリサイド系半導体研究会. 2005. 招待講演
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:23:13 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:40:36 +0900