Cross-Sectional TEM Specimen Preparation by Merging Wedge-Polishing with FIB Milling for the Nano-wires Grown on Various Substrates
6th International Symposium on Atomic Level Characterizations . 2007年10月28日-2007年11月02日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 10:54:39 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:04:39 +0900